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射頻元件缺損檢測(cè)

開發(fā)背景                                                                                          

        在射頻元件生產(chǎn)后段，產(chǎn)品裝入料帶前需要檢測(cè)產(chǎn)品正反方向、表面鍍層、引腳長短、是否變形和缺膠。任何壞品都應(yīng)該剔除。傳統(tǒng)人工挑選方法面臨檢測(cè)速度慢，勞動(dòng)強(qiáng)度大和容易漏檢的問題。

系統(tǒng)原理                                                                                          

        產(chǎn)品到達(dá)測(cè)量位置時(shí)，光纖傳感器給出測(cè)量信號(hào)，高速彩色數(shù)字相機(jī)抓取產(chǎn)品圖像，判斷上下PIN是否在位置上，區(qū)分兩PIN顏色是否正確，再確定尺寸大小是否合格，完成檢測(cè)后，若NG則報(bào)警停機(jī)，提示操作人員排除。

 性能指標(biāo)                                                                                         

       ◇ 檢測(cè)內(nèi)容：元件正反與缺陷判斷；

       ◇ 視場(chǎng)大小：8mm*6mm

       ◇ 檢測(cè)精度：0.012 mm/Pixel

       ◇ 檢測(cè)速度：10個(gè) /秒

       ◇ 檢測(cè)結(jié)果：壞品圖片存入電腦，可任意查詢。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)                                                                                         

        ◇不良品漏檢率為0，避免客訴問題。

        ◇節(jié)約人工成本，，，徹底解決人眼產(chǎn)生的疲勞誤判。

        ◇可持續(xù)長時(shí)間穩(wěn)定工作，故障率低。

        ◇非接觸測(cè)量，對(duì)被測(cè)物體不會(huì)產(chǎn)生損傷。

        ◇報(bào)表輸出，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，以便不良品分析。

適用范圍                                                                                        
          半導(dǎo)體元件表面缺陷特征監(jiān)測(cè)、字符印刷殘缺檢測(cè)、芯片引腳封裝完整檢測(cè)、元件破損檢測(cè)、端子引腳尺寸檢測(cè)、編帶機(jī)元件極性識(shí)別、鍵盤字符檢測(cè)等。